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新聞資訊

半導體器件引線用推拉力剪切力測試儀

發布時間:2023-12-25         文章來源:

半導體器件需要利用引線鍵合方式實現芯片與基底或引線框架的電氣連接,引線鍵合的質量直接影響器件的性能和可靠性,因此半導體器件的生產過程以及鑒定檢驗中,需要抽取一定數量的樣品進行破壞性鍵合推拉力試驗,以評價鍵合工藝的質量和穩定性。

金線鍵合推拉力標準通常要求在室溫下推拉10000次,并且連接強度不低于指定的要求值。根據國際標準和行業經驗,25μm金球焊引線鍵合推拉力標準通常在2~5克之間。這個范圍被認為是最適宜的,因為它既能夠保證引線與芯片、基板之間的牢固連接,又不會對金球焊引線本身造成損傷。

半導體器件測試

為了確保金球焊引線鍵合推拉力標準的準確性和一致性,需要進行嚴格的質量控制和檢測。首先,需要使用專業的鍵合設備和工藝參數來進行鍵合操作,以確保施加的推拉力在標準范圍內。其次,還需要使用合適的測試儀器來對鍵合后的引線進行拉力測試,以驗證其質量是否符合標準要求。

請注意,具體推拉力取值還需要根據具體的鍵合工藝和材料來確定,以確保最佳的鍵合效果。

銅線已經成為當前半導體器件主要的內部互聯材料,銅線的鍵合推拉力試驗是評價器件內部互聯質量的關鍵技術手段。

推拉力剪切力測試儀.jpg
使用推拉力剪切力測試儀之前,必須檢查儀器是否處于正常工作狀態。檢查儀器是否完好無損,并確認儀器的標定日期是否在有效期內。同時,檢查測試儀器的環境條件是否符合要求,如溫度、濕度等因素。只有在確保儀器正常工作的情況下,才能進行測試。

在使用過程中,必須正確安裝并固定被測樣品。被測樣品應該與測試夾具緊密貼合,避免出現松動或其他干擾因素。同時,需要根據不同的測試要求選擇合適的夾具和夾具類型。若安裝不當,可能會對測試結果產生誤差,甚至導致測試過程中的意外發生。

在測試過程中,需要注意測試樣品的選擇和準備。應根據實際需求選擇合適的樣品進行測試,并確保樣品的質量和尺寸符合要求。另外,在進行測試之前,應對樣品進行充分的處理和準備,包括清潔、修整、打磨等工作。這些步驟的正確執行將有助于提高測試結果的準確性。

在進行拉力剪切力測試時,應確保儀器操作人員具備相關的專業知識和技能。操作人員應熟悉儀器的使用方法和操作流程,并能正確地操作和控制測試過程中的各項參數。此外,操作人員還應清楚了解測試過程中的注意事項和應急措施,以應對可能出現的意外情況。

在測試完成后,應及時對儀器進行清潔和維護。清潔儀器可以去除外表污穢,保持儀器的良好狀態。同時,還應定期對儀器進行校準和保養,確保儀器的精準度和穩定性。這樣可以延長儀器的使用壽命,提高測試結果的可靠性。

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